küçükresim|Bir atom probundan elde edilen verilerin görselleştirilmesi. Her nokta, tespit edilen buharlaştırılmış iyonlardan yeniden yapılandırılmış bir atom pozisyonunu temsil eder. Atom probu, 1967'de Erwin Wilhelm Müller ve JA Panitz tarafından 14. Alan Emisyon Sempozyumunda tanıtıldı. Atom probu alan iyon mikroskobu ile tek bir parçacık algılama özelliğine sahip bir kütle spektrometresini birleştirdi ve böylece ilk kez bir alet "... metal bir yüzeyde görülen ve gözlemcinin takdirine bağlı olarak komşu atomlardan seçilen tek bir atomun doğasını belirleyebildi". Atom probları, geleneksel optik veya elektron mikroskoplarından farklıdır, çünkü büyütme etkisi, radyasyon yollarının manipülasyonundan ziyade oldukça eğimli bir elektrik alanı tarafından sağlanan büyütmeden gelir. Yöntem, doğası gereği tahrip edicidir, iyonları görüntülemek ve tanımlamak için bir numune yüzeyinden uzaklaştırır ve numune yüzeyinden çıkarılırken tek tek atomları gözlemlemek için yeterli büyütmeler üretir. Bu büyütme yönteminin uçuş zamanı kütle spektrometresi ile birleştirilmesi yoluyla, elektrik darbelerinin uygulanmasıyla buharlaşan iyonların kütle-yük oranı hesaplanabilir. Materyalin art arda buharlaştırılmasıyla, bir numuneden atom katmanları çıkarılır, bu da sadece yüzeyin değil, aynı zamanda materyalin kendisinin de araştırılmasına izin verir. Numunenin buharlaştırılmadan önce üç boyutlu görünümünü yeniden oluşturmak için bilgisayar yöntemleri kullanılır, bir numunenin yapısı hakkında atomik ölçek bilgisi sağlanır ve ayrıca tip atomik tür bilgileri sağlanır. Cihaz, keskin bir uçtan milyarlarca atomun üç boyutlu yeniden yapılandırılmasına izin verir. == Kaynakça == == Konuyla ilgili yayınlar == * Michael K. Miller, George D.W. Smith, Alfred Cerezo, Mark G. Hetherington (1996) Atom Probe Field Ion Microscopy Monographs on the Physics and Chemistry of Materials, Oxford: Oxford University Press. ISBN 9780198513872\. * Michael K. Miller (2000) Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level. New York: Kluwer Academic. ISBN 0306464152 * Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, SImon P. Ringer (2012) Atom Probe Microscopy, Springer Series in Materials Science, Vol. 160, New York: Springer. ISBN 978-1-4614-3436-8 * David J. Larson, Ty J. Prosa, Robert M. Ulfig, Brian P. Geiser, Thomas F. Kelly (2013) Local Electrode Atom Probe Tomography - A User's Guide , Springer Characterization & Evaluation of Materials, New York: Springer. ISBN 978-1-4614-8721-0 == Dış bağlantılar == * Video demonstrating Field Ion images, and pulsed ion evaporation * www.atomprobe.com - A CAMECA provided community resource with contact information and an interactive FAQ * MyScope Atom Probe Tomography - An online learning environment for those who want to learn about atom probe provided by Microscopy Australia Kategori:Nanoteknoloji Kategori:Mikroskoplar Kategori:Bilimsel teknikler