In a typical example, the sampling cone is modified to give a narrower apex angle inside the tip. 플라즈마에서 팁 뒤의 좁은 정점으로 추출된 이온은 이온 빔 확장이 제한되기 때문에 더 많은 충돌을 겪게 됩니다. This in turn gives rise to a localized increase in pressure.